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葉面積指數(shù)儀介紹|葉面積指數(shù)測量儀作用詳解

發(fā)布時間:2024-02-20 17:28:56點擊次數(shù):424

葉面積指數(shù)儀介紹:

葉面積指數(shù)儀是用來研究各種植物冠層相關(guān)參數(shù)的專業(yè)儀器!它利用魚眼鏡頭和CCD圖像傳感器獲取植物冠層圖像,并通過專用分析軟件對圖像進行分析來獲得植物葉面積指數(shù)、葉片平均傾角、散射輻射透過率、不同太陽高度角下的直射輻射透過率以及不同太陽高度角下的消光系數(shù)等相關(guān)參數(shù)。儀器外接大容量鋰電池,適用于野外工作和長時間測量!

植物冠層圖像分析儀


葉面積指數(shù)儀作用:

1、精準測量:傳統(tǒng)的葉面積測量方法往往耗時耗力,且誤差較大。通過使用葉面積指數(shù)測量儀能夠迅速、準確地獲取植物葉面積等相關(guān)數(shù)據(jù),大大提高了測量的效率和精度;

2、指導生產(chǎn):通過測量葉面積指數(shù),可以預測作物的產(chǎn)量潛力,為農(nóng)戶提供科學的種植建議。同時還可以幫助農(nóng)戶選擇合適的種植密度,以提高光能利用率和作物產(chǎn)量;

3、生態(tài)研究:葉面積指數(shù)測量儀在生態(tài)學研究中也有著廣泛的應用。它可以用于評估森林、草原等生態(tài)系統(tǒng)的健康狀況,為生態(tài)保護提供科學依據(jù)。


葉面積指數(shù)儀原理:

葉面積指數(shù)測量儀是采用冠層孔隙率與冠層結(jié)構(gòu)相關(guān)的原理,依據(jù)光線穿過介質(zhì)減弱的比爾定律。在植物冠層定義了一系列假設前提的條件下,采用半理論半經(jīng)驗的公式,通過冠層孔隙率的測定,計算出冠層結(jié)構(gòu)參數(shù)。


葉面積指數(shù)儀功能:

1、儀器無損測量植物葉面積指數(shù)、葉片平均傾角以及冠層結(jié)構(gòu)。

2、探頭體積小巧,裝在測杠上可任意角度測量植物冠層結(jié)構(gòu)。

3、攝像頭可自動保持水平。

4、USB接口,測量時連接電腦實時查看冠層圖像,即時選取所需圖像并保存。

5、外接大容量鋰電池,適用于野外工作和長時間測量。

6、測量冠層不同高度,可得到群體內(nèi)光透過率和葉面積指數(shù)垂直分布圖。

7、葉面積指數(shù)儀配有專用植物分析軟件,有選擇所需圖像區(qū)域的功能(天頂角可分10區(qū),方位角可分10區(qū)),可屏蔽不合理的冠層部分,僅對有效圖像區(qū)域進行分析,使測量數(shù)據(jù)更加精確。

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